Zeta电位仪
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收费标准
机时0元/小时 -
设备型号
Nanobrook omni -
当前状态
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管理员
陈达睿 Jeff Darui CHEN -
放置地点
W3-325
- 仪器信息
- 预约资源
- 附件下载
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名称
Zeta电位仪
资产编号
325A14
型号
Nanobrook omni
规格
产地
厂家
布鲁克海文
所属品牌
出产日期
购买日期
所属单位
多功能高聚物薄膜中央实验室 Multi-functional Polymeric Membranes Research Facility
使用性质
科研
所属分类
资产负责人
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联系电话
联系邮箱
jeffdrc@hkust-gz.edu.cn
放置地点
W3-325
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 备注
主要规格&技术指标
1.散射角：15度 90度 173度
2.粒度测量范围：0.3nm-10um
3.1-3mL
1. Scattering angles: 15°, 90°, 173°
2. Particle size measurement range: 0.3 nm - 10 μm
3. Sample volume: 1 - 3 mL
2.粒度测量范围：0.3nm-10um
3.1-3mL
1. Scattering angles: 15°, 90°, 173°
2. Particle size measurement range: 0.3 nm - 10 μm
3. Sample volume: 1 - 3 mL
主要功能及特色
NanoBrook Omni 粒度和 Zeta 电位分析仪集成了快速、常规、亚微米级粒度和 Zeta 电位测量于一体。基于动态光散射（DLS）原理进行粒度和粒度分布测量，以及基于多普勒测速法（电泳光散射，ELS）进行 Zeta 电位测量，大多数测量仅需一两分钟。
The NanoBrook Omni particle size and zeta potential analyzer incorporates all you need for fast, routine, sub-micron measurements of size and zeta potential. Based on the principles of Dynamic Light Scattering (DLS) for particle sizing and distribution, and on Doppler velocimetry (electrophoretic light scattering, ELS) for zeta potential, most measurements only take a minute or two.
The NanoBrook Omni particle size and zeta potential analyzer incorporates all you need for fast, routine, sub-micron measurements of size and zeta potential. Based on the principles of Dynamic Light Scattering (DLS) for particle sizing and distribution, and on Doppler velocimetry (electrophoretic light scattering, ELS) for zeta potential, most measurements only take a minute or two.
备注
请通过MPMRF官网（https://amc.hkust-gz.edu.cn/share/home/index）进行预约，谢谢！
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