单晶X射线衍射仪 X-Ray Single Crystal Diffractometer
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4/人使用者
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25/次机时次数
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68/小时总时长
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13/次送样次数
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9/人收藏者
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收费标准
机时500元/小时送样详见检测项目 -
设备型号
XtaLAB Synergy-DW -
当前状态
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管理员
黄允然 Lawrence Wan Yin Lawrence WONG,叶倪茹 Niru YE 020-88338470 -
放置地点
W2-124
- 仪器信息
- 预约资源
- 检测项目
- 附件下载
- 公告
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名称
单晶X射线衍射仪 X-Ray Single Crystal Diffractometer
资产编号
MC-XA-0006
型号
XtaLAB Synergy-DW
规格
XtaLAB Synergy-DW
产地
厂家
株式会社理学 Rigaku Corporation
所属品牌
株式会社理学 Rigaku Corporation
出产日期
2024-04-05
购买日期
所属单位
材料表征与制备中央实验室 Materials Characterization and Preparation Facility (GZ)
使用性质
科研
所属分类
MCPF-X射线分析 X-Ray Analysis
资产负责人
黄允然 Lawrence Wan Yin Lawrence WONG
联系电话
020-88338470
联系邮箱
lawrwong@hkust-gz.edu.cn,niruye@hkust-gz.edu.cn
放置地点
W2-124
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
主要规格&技术指标
1. 1.2KW 微焦斑自转靶Cu/Mo双波长
2. 额定电压电流: Cu: 40kV 30mA, Mo: 50kV 24mA
3. HPC 100度弧形探测器
4. 四圆Kappa测角仪
5. Oxford Stream 1000 液氮低温冷却装置: 100-400K
1. 1.2KW Cu/Mo Dual Wavelength Microfocus Source
2. Working Voltage/Current: Cu: 40kV 30mA, Mo: 50kV 24mA
3. Hybrid Photon Counting 100o Arc Detector
4. Four Circle (Kappa) Goniometer
5. Oxford Stream 1000 Liquid Nitrogen Low temperature: 100-400K
2. 额定电压电流: Cu: 40kV 30mA, Mo: 50kV 24mA
3. HPC 100度弧形探测器
4. 四圆Kappa测角仪
5. Oxford Stream 1000 液氮低温冷却装置: 100-400K
1. 1.2KW Cu/Mo Dual Wavelength Microfocus Source
2. Working Voltage/Current: Cu: 40kV 30mA, Mo: 50kV 24mA
3. Hybrid Photon Counting 100o Arc Detector
4. Four Circle (Kappa) Goniometer
5. Oxford Stream 1000 Liquid Nitrogen Low temperature: 100-400K
主要功能及特色
1. 晶体结构或分子结构的常规测定（包括晶体的点阵常数，对称性，分子的三维立体结构，键长、键角、构型、构像及分子在晶格中的排列状况）；
2. 分子绝对构型和晶体绝对结构测定；
3. 精密电子密度测量; 孪晶结构分析；超结构和无公度调制结构分析
1. Crystal Structure Determination (including unit cell checking, space group determination, 3D structure, bond length/angle, packing arrangement etc)
2. Absolute Configuration Determination (Chirality)
3. Electron Density Measurement, Twin Refinement, Superlattices and Microstructural Determination
2. 分子绝对构型和晶体绝对结构测定；
3. 精密电子密度测量; 孪晶结构分析；超结构和无公度调制结构分析
1. Crystal Structure Determination (including unit cell checking, space group determination, 3D structure, bond length/angle, packing arrangement etc)
2. Absolute Configuration Determination (Chirality)
3. Electron Density Measurement, Twin Refinement, Superlattices and Microstructural Determination
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