高分辨率X射线三维显微镜 (断层扫描) X-Ray 3D Microscope (Micro-CT)
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收费标准
机时140元/小时送样详见检测项目 -
设备型号
Xradia 515 Versa -
当前状态
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管理员
叶倪茹 Niru YE,黄允然 Lawrence Wan Yin Lawrence WONG 020-88338470 -
放置地点
W2-130
- 仪器信息
- 检测项目
- 附件下载
- 公告
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名称
高分辨率X射线三维显微镜 (断层扫描) X-Ray 3D Microscope (Micro-CT)
资产编号
MC-XA-0007
型号
Xradia 515 Versa
规格
Xradia 515 Versa
产地
英国
厂家
Zeiss
所属品牌
Zeiss
出产日期
购买日期
所属单位
材料表征与制备中央实验室 Materials Characterization and Preparation Facility (GZ)
使用性质
科研
所属分类
MCPF-X射线分析 X-Ray Analysis
资产负责人
黄允然 Lawrence Wan Yin Lawrence WONG
联系电话
020-88338470
联系邮箱
lawrwong@hkust-gz.edu.cn,niruye@hkust-gz.edu.cn
放置地点
W2-130
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
主要规格&技术指标
1. 光电耦合物镜探测器，物镜0.4X的最大三维视野50mm；物镜40X最高空间分辨率500nm。
2. X射线源最高工作电压160kV，最大功率10W。
3. 最大可测样品尺寸φ300mm×450mm。
4. 原位测试力值最大5KN，轴向位移最大10mm，轴向位移速度0.1mm/min -1mm/min。
5. 原位拉伸试验台的温度范围 -20℃ ~+160℃。
2. X射线源最高工作电压160kV，最大功率10W。
3. 最大可测样品尺寸φ300mm×450mm。
4. 原位测试力值最大5KN，轴向位移最大10mm，轴向位移速度0.1mm/min -1mm/min。
5. 原位拉伸试验台的温度范围 -20℃ ~+160℃。
主要功能及特色
1. 利用X射线穿透样品，探测器收集不同吸收信号，实现X射线全场成像
2. 可以对材料内部结构无损测试，并进行三维重构和切片表征
3. 复合材料、多孔材料、建筑材料、岩石三维孔隙结构、特征提取和定量分析与统计分布
4. 增材制造、金属、陶瓷内部缺陷检测；生成三维网格模型用于数值模拟计算或3D打印；电池、芯片、热电材料的失效分析
5. 纤维材料的取向分析；动植物组织学成像分析；材料拉伸或压缩断裂行为和加热试验的原位表征。
2. 可以对材料内部结构无损测试，并进行三维重构和切片表征
3. 复合材料、多孔材料、建筑材料、岩石三维孔隙结构、特征提取和定量分析与统计分布
4. 增材制造、金属、陶瓷内部缺陷检测；生成三维网格模型用于数值模拟计算或3D打印；电池、芯片、热电材料的失效分析
5. 纤维材料的取向分析；动植物组织学成像分析；材料拉伸或压缩断裂行为和加热试验的原位表征。
样本检测注意事项
设备属于II类射线装置，按法规要求只容许已登记辐射工作人员操作，因此只接受送样测试，如有特别需要请联系管理员
检测项目
附件下载
公告
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