多功能X射线衍射仪 Multipurpose X-Ray Diffractometer
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15/人使用者
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194/次机时次数
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823/小时总时长
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117/次送样次数
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44/人收藏者
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收费标准
机时登陆后显示送样详见检测项目 -
设备型号
Empyrean 3.0 -
当前状态
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管理员
黄允然 Lawrence Wan Yin Lawrence WONG,叶倪茹 Niru YE 020-88338470 -
放置地点
W2-124
- 仪器信息
- 预约资源
- 检测项目
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- 公告
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名称
多功能X射线衍射仪 Multipurpose X-Ray Diffractometer
资产编号
MC-XA-0003
型号
Empyrean 3.0
规格
Empyrean 3.0
产地
厂家
马尔文帕纳科 Malvern PANalytical
所属品牌
马尔文帕纳科 Malvern PANalytical
出产日期
购买日期
所属单位
材料表征与制备中央实验室 Materials Characterization and Preparation Facility (GZ)
使用性质
科研
所属分类
MCPF-X射线分析 X-Ray Analysis
资产负责人
黄允然 Lawrence Wan Yin Lawrence WONG
联系电话
020-88338470
联系邮箱
niruye@hkust-gz.edu.cn,lawrwong@hkust-gz.edu.cn
放置地点
W2-124
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 设备使用相关说明
主要规格&技术指标
1. 金属陶瓷X射线光管：最高50 kV激发电压，最大电流为55 mA，最大功率为1.8kW； 铜(Cu)靶
2. 扫描模式：θ/θ 样品水平放置，最小的可控步长: 0.0001°
3. 测角仪半径：240 mm 可直接光学定位和配备直流马达，整机重现性0.001°
4. PIXcel3D 全能矩阵二维探测器
5. 五轴欧拉样品台 (Chi-Phi-X-Y-Z)
6. 入射光路单色器：Ge220四晶单色器，配有Kα1单色器，能除掉Kα2波长的X射线
7. 双探测器：包含三轴晶分析晶，体充Xe正比计数器，双定标器板，探测器用高压
1. Empyrean tube Cu LFF (HR): maximum voltage 50kV, maximum current 55mA, maximum power 1.8kW
2. scanning mode：θ/θ vertical geometry, mnimum step width: 0.0001°
3. Measurement Radius：240 mm Direct optical positioning and equipping with DC motors，angular accuracy 0.001°
4. PIXcel3D 2D Area detector
5. 5-Axis cradle (Chi-Phi-X-Y-Z)
6. Incident beam monochromator: 4-crystal monochr. Ge220, with Kα1 monochromator, can filter Kα2
7. Dual detectors option: PreFIX 3-bounce sym. analyzer, Xe 20x24mm DS, dual scaler board, HV Conv. for detector
2. 扫描模式：θ/θ 样品水平放置，最小的可控步长: 0.0001°
3. 测角仪半径：240 mm 可直接光学定位和配备直流马达，整机重现性0.001°
4. PIXcel3D 全能矩阵二维探测器
5. 五轴欧拉样品台 (Chi-Phi-X-Y-Z)
6. 入射光路单色器：Ge220四晶单色器，配有Kα1单色器，能除掉Kα2波长的X射线
7. 双探测器：包含三轴晶分析晶，体充Xe正比计数器，双定标器板，探测器用高压
1. Empyrean tube Cu LFF (HR): maximum voltage 50kV, maximum current 55mA, maximum power 1.8kW
2. scanning mode：θ/θ vertical geometry, mnimum step width: 0.0001°
3. Measurement Radius：240 mm Direct optical positioning and equipping with DC motors，angular accuracy 0.001°
4. PIXcel3D 2D Area detector
5. 5-Axis cradle (Chi-Phi-X-Y-Z)
6. Incident beam monochromator: 4-crystal monochr. Ge220, with Kα1 monochromator, can filter Kα2
7. Dual detectors option: PreFIX 3-bounce sym. analyzer, Xe 20x24mm DS, dual scaler board, HV Conv. for detector
主要功能及特色
1. 固体样品：物相和定量分析，表面残余应力分析，金属织构分析，Rocking Curve和倒易空间Mapping
2. 薄膜样品：多晶薄膜掠入射物相分析，反射率测试，表面残余应力分析，二維衍射，微区衍射
1. Solid samples: phase identification and quantification, residue stress analysis and texture analysis
2. Thin film samples: thin film grazing incidence XRD, X-ray Reflectometry, residue stress analysis, 2D XRD, micro-XRD analysis
2. 薄膜样品：多晶薄膜掠入射物相分析，反射率测试，表面残余应力分析，二維衍射，微区衍射
1. Solid samples: phase identification and quantification, residue stress analysis and texture analysis
2. Thin film samples: thin film grazing incidence XRD, X-ray Reflectometry, residue stress analysis, 2D XRD, micro-XRD analysis
设备使用相关说明
1. 按预约时间计费，机时未满1小时按1小时计费，请按时上机；
2. 测试过程中如遇设备问题请及时联系仪器管理员。
2. 测试过程中如遇设备问题请及时联系仪器管理员。
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