扫描电子显微镜 Scanning Electron Microscope (SEM) SU3900

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收费标准

机时
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详见检测项目

设备型号

SU3900

当前状态

管理员

陈海滨 Haibin CHEN,凡晓顺 Xiaoshun FAN,何颜玲 Yanling HE 020-88338502

放置地点

W2-123
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名称

扫描电子显微镜 Scanning Electron Microscope (SEM) SU3900

资产编号

MC-NA-0006

型号

SU3900

规格

产地

厂家

日立

所属品牌

出产日期

购买日期

所属单位

材料表征与制备中央实验室 Materials Characterization and Preparation Facility (GZ)

使用性质

科研

所属分类

MCPF-纳米分析 Nano Analysis

资产负责人

陈海滨 Haibin CHEN

联系电话

020-88338502

联系邮箱

chenhb@hkust-gz.edu.cn,yanlinghe@hkust-gz.edu.cn

放置地点

W2-123
  • 主要规格&技术指标
  • 主要功能及特色
主要规格&技术指标
1. 钨灯丝扫描电子显微镜;
2. 分辨率:3.0nm@30kV, 15nm@1kV;
3. 放大倍率: 5 ~ 300,000x;
4. 加速电压: 0.3 ~ 30 kV;
5. 低真空设定:6 ~ 650 Pa;
6. 样品台:最大样品直径300mm; 150×150mm 5轴马达驱动 (X: 0~150mm; Y: 0~150mm; Z: 5~85mm; R: 360o; T: -20 ~90o );
7. 元素分析仪:Oxford AZtecLive UltimMax 40;
1. Tungsten Hairpin Filament Scanning Electron Microscope;
2. Resolution:3.0nm@30kV, 15nm@1kV;
3. Magnification: 5 ~ 300,000x;
4. Accelerating voltage: 0.3 ~ 30 kV;
5. Variable pressure mode:6 - 650 Pa;
6. Specimen Stage:Maximum sample size: 300mm dia. x 130mmH; 150×150mm 5 Axis motorized stage (X: 0~150mm; Y: 0~150mm; Z: 5~85mm; R: 360o; T: -20 ~90o );
7. EDX dector:Oxford AZtecLive UltimMax 40
主要功能及特色
1. 配备多功能超大样品仓,最大样品尺寸可达 300mm(直径)x 130 mm (高度);
2. 配备高灵敏度背散射探头(BSE);
1. Equipped with a large multipurpose specimen chamber,Maximum sample size: 300mm dia. x 130mmH;
2. Equipped with ultra efficient photodiode BSE;
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