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- [试卷]AFM用户条例 未通过
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学习资料：1份学时要求：2分钟已学习：0分钟试卷关联：研究级原子力显微镜
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考题数：1题通过条件：正确率>100%最多考试次数： 2次
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- [试卷]ESEM用户条例 未通过
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学习资料：1份学时要求：2分钟已学习：0分钟试卷关联：环境扫描电子显微镜 Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM)
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考题数：1题通过条件：正确率>100%最多考试次数： 2次
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- [试卷]FIB用户条例 未通过
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学习资料：1份学时要求：2分钟已学习：0分钟试卷关联：双束聚焦离子束系统 Dual-Beam Focused Ion Beam System
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考题数：1题通过条件：正确率>100%最多考试次数： 2次
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- [试卷]FTIR用户条例 未通过
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学习资料：1份学时要求：2分钟已学习：0分钟试卷关联：FTIR傅立叶变换红外光谱仪 Fourier Transform Infrared Microscopy
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考题数：1题通过条件：正确率>100%最多考试次数： 2次
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- [试卷]MCPF上机测试 未通过
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学习资料：0份学时要求：0分钟已学习：0分钟试卷关联：气动冲片机 Pneumatic Punching Machine、台阶仪、高分辨率X射线三维显微镜 (断层扫描) X-Ray 3D Microscope (Micro-CT)、椭偏仪 Ellipsometer、磁控溅射镀膜仪 Magnetron sputtering coating instrument、材料试验机-68SC Universal Testing Machine、振动抛光机 Vibratory Polisher、多功能表面分析系统 Multi-Technique Surface Analysis System（XPS, AES, UPS, LEIPS）、多功能原子力显微镜、烘箱-110L-2 Oven、抛光机-2 Polisher、多功能X射线衍射仪 Multipurpose X-Ray Diffractometer、高通量粉末X射线衍射仪 High Throughput Powder X-Ray Diffractometer、双束聚焦离子束系统 Dual-Beam Focused Ion Beam System、高真空溅射镀膜仪 Vacuum Thin Film Sputter Q150T Plus、超高分辨率扫描电子显微镜 Ultra-high Resolution Scanning Electron Microscope (SEM) Regulus8100、动态热机械分析仪 Dynamic Mechanical Analyzer、静态热机械分析仪 Thermal Mechanical Analyzer、小型精密切割机、高分辨率透射电子显微镜 High-resolution Transmission Electron Microscope、紫外/可见/近红外分光光度计 UV/Vis/NIR Spectrophotometer、全自动多用气体吸附仪 Surface Characterization Analyzer、电子束蒸发介质镀膜仪II Electron beam evaporation coating instrument II、热重分析仪 Thermal Gravimetric Analyzer、FTIR傅立叶变换红外光谱仪 Fourier Transform Infrared Microscopy、离子研磨仪 Ion Milling System IM4000II、电子式拉扭疲劳试验机 Electronic Servo Tension-Torsion Fatigue Testing Machine、电子束蒸发金属镀膜仪I Electron beam evaporation coating instrument I、霍尔效应测试仪 Hall Effect Measurement System、小角/广角X射线散射仪 Small/Wide Angle Scattering Diffractometer、烘箱-55L-1 Oven、环境扫描电子显微镜 Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM)、超高分辨率扫描电子显微镜 Ultra-high Resolution Scanning Electron Microscope (SEM) Regulus8230、显微共焦激光拉曼光谱仪 Confocal Raman Microscope、研究级原子力显微镜、3D-DIC测量系统、高分辨率扫描电子显微镜 High Resolution Scanning Electron Microscope (SEM) SU5000、能量色散X射线荧光光谱仪 Energy Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer、精密离子减薄仪 Precision Ion Polishing System、高低温材料试验机-68TM、真空烘箱 Vacuum Oven、同步热分析仪 Simultaneous DSC/TGA Analyzer、飞行时间二次离子质谱 Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry with Orbitrap analyzer、水磨机-1 Grinder、差示扫描量热仪（RCS90 机械制冷） Differential Scanning Calorimeter、研究级金相显微镜 Metallurgical Microscope、三维原子探针质谱仪 Local Electrode Atom Probe Tomography、台式粉末X射线衍射仪 Benchtop Powder X-Ray Diffractometer、多功能多通道电化学综合测试系统 Multi-functional multi-channel electrochemical comprehensive test system、精密切割机 Precision Cutter、激光共聚焦显微镜 Laser Scanning Confocal Microscope、抛光机-1 Polisher、水磨机-2 Grinder、高级流变扩展系统 Advanced Rheology Expanded System、差示扫描量热仪（RCS120/液氮制冷） Differential Scanning Calorimeter、离子溅射仪 Ion Sputter MC1000、烘箱-55L-2 Oven、扫描电子显微镜 Scanning Electron Microscope (SEM) SU3900、摆锤冲击试验机 Pendulum impact tester、单晶X射线衍射仪 X-Ray Single Crystal Diffractometer、高对比度透射电子显微镜 High-contrast Transmission Electron Microscope、烘箱-110L-1 Oven
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考题数：1题通过条件：正确率>100%最多考试次数： 2次
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- [试卷]Raman 用户条例 未通过
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学习资料：1份学时要求：2分钟已学习：0分钟试卷关联：显微共焦激光拉曼光谱仪 Confocal Raman Microscope
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考题数：1题通过条件：正确率>100%最多考试次数： 2次
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- [试卷]RC2用户条例 未通过
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学习资料：1份学时要求：0分钟已学习：0分钟试卷关联：椭偏仪 Ellipsometer
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考题数：1题通过条件：正确率>100%最多考试次数： 2次
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- [试卷]SAXS用户条例 未通过
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学习资料：1份学时要求：2分钟已学习：0分钟试卷关联：小角/广角X射线散射仪 Small/Wide Angle Scattering Diffractometer
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考题数：1题通过条件：正确率>100%最多考试次数： 2次
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- [试卷]TEM用户条例 未通过
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学习资料：1份学时要求：2分钟已学习：0分钟试卷关联：高对比度透射电子显微镜 High-contrast Transmission Electron Microscope、高分辨率透射电子显微镜 High-resolution Transmission Electron Microscope
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考题数：1题通过条件：正确率>100%最多考试次数： 2次